针式扫描原子力显微镜是一种利用量子隧穿现象的显微镜，可以进行原子级的表面成像。核心部分是一个非常尖锐的针，一端与被测样品表面相距约0.1纳米。当针尖靠近样品表面时，电势差将导致电流从针尖向样品表面流动。通过控制电流的大小，可以得出样品表面的形状信息。能够实现原子级别的成像，不仅可以观察单个原子和分子的结构，还可以研究它们在表面上的排布和移动规律。因此，STM被广泛应用于表面物理、表面化学、材料科学等领域的研究。
针式扫描原子力显微镜是一种高精度、高分辨率的仪器，广泛应用于物质科学、生命科学、纳米制造等领域。随着使用时间的增长，AFM的性能会逐渐下降，因此维护和保养是保证其正常工作和延长寿命的关键。
1.清洗探针
探针是AFM的核心部件，其质量和形状对仪器的性能和分辨率有重要影响。使用过程中，探针表面容易受到样品里的微粒子、化学物质、沉积物等污染，导致探针性能下降甚至损坏。因此，定期清洗探针是必要的。
清洗探针时，应用清洁无纺布或纯棉布蘸上去离子水或特定的清洗液（具体根据探针材质和污染物不同）擦拭探针表面。注意不要使用化学物质或磨粉等物质清洗探针，以免损坏探针的结构和表面状态。
2.维护扫描头和样品台
扫描头和样品台是AFM的另外两个关键部件。使用过程中，存在可能损伤探针的风险，同时很多扫描头需要配套使用散热器来保证正常工作温度，样品台也会受到温度、湿度变化影响，因而需要进行定期维护和保养。
维护扫描头：打开扫描头部分，可以看到扫描头内齿轮、摆臂等，使用特定清洗液或者物理方法（如干燥或者吹扫）清理其中的灰尘或者杂质，并定期加润滑油以保证其灵敏度和机械特性。
维护样品台：样品台是安放样品的平台，因为其直接贴近样品，所以需要时时监测其表面和环境温湿度，以避免样品接触高温或者过于潮湿的空气。
3.校准AFM参数
AFM的操作过程中需要对其进行定期校准，以保证其各种参数如精度、灵敏度、扫描速度等都达到最佳状态。
常规校准：在启动或者间歇保护时间断开时，应该完成常规标准（如偏移，扫描范围）的校准。
校准环境：在环境温度变化较大的情况下，AFM的各个参数可能会受到影响，需要通过校准温度传感器调整温度，确保AFM的精度和分辨率保持一致。
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